France – Microelectronic machinery and apparatus – Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)

Tender opportunity published by UK public sector buyer on TenderSignal, the UK public sector tender monitoring platform.

Contracting Authority

UK public sector buyer

Region

France

Contract Type

29

Source

TED

La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les config

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